| Titel: | STM-Untersuchungen zur Rekonstruktion und Facettierung reiner und adsorbatbedeckter Elementhalbleiteroberflächen mit (001)- und (103)-Orientierungen | Sprache: | Deutsch | Autor*in: | Falkenberg, Gerald | GND-Schlagwörter: | Elementhalbleiter Kristallfläche RastertunnelmikroskopieGND |
Erscheinungsdatum: | 1998 | Tag der mündlichen Prüfung: | 1998-09-04 | URL: | https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/221 | URN: | urn:nbn:de:gbv:18-076 | Dokumenttyp: | Dissertation | Betreuer*in: | Johnson, Robert L. (Prof. Dr.) |
| Enthalten in den Sammlungen: | Elektronische Dissertationen und Habilitationen |
Dateien zu dieser Ressource:
| Datei | Beschreibung | Prüfsumme | Größe | Format | |
|---|---|---|---|---|---|
| html_7.zip | 148dd01124c499b2aba4cf8fe6656a08 | 15.34 MB | Unknown | Öffnen/Anzeigen |
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