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Hamburg, Carl von Ossietzky

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Dissertation zugänglich unter
URN: urn:nbn:de:gbv:18-8290
URL: http://ediss.sub.uni-hamburg.de/volltexte/2002/829/


Photoemissionsuntersuchungen an vergrabenen Grenzschichten SiO2/Si, SiO2/SiC und Thiolen auf Gold mit 3,0-5,5 keV Röntgenstrahlung

Eickhoff, Thorsten

pdf-Format:
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Basisklassifikation: 33.68
Institut: Physik
DDC-Sachgruppe: Physik
Dokumentart: Dissertation
Hauptberichter: Johnson, Robert L. (Prof. Dr.)
Sprache: Deutsch
Tag der mündlichen Prüfung: 28.10.2002
Erstellungsjahr: 2002
Publikationsdatum: 01.01.2002

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