| Titel: | Aufbau und Kalibrierung eines Raster LEED Mikroskops | Sprache: | Deutsch | Autor*in: | Hoyer, Jörn | Erscheinungsdatum: | 2007 | Tag der mündlichen Prüfung: | 2007-05-15 | URL: | https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/1749 | URN: | urn:nbn:de:gbv:18-33183 | Dokumenttyp: | Dissertation | Betreuer*in: | Oepen, Hans Peter (Prof. Dr.) |
| Enthalten in den Sammlungen: | Elektronische Dissertationen und Habilitationen |
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| Datei | Beschreibung | Prüfsumme | Größe | Format | |
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| Diss-JHoyer-Abstract.pdf | e799c4dfd1bd7585b30f3a761b39cb60 | 69.77 kB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen | |
| Diss-JHoyer-klein.pdf | e492a9de1572dd655472fa054645c7e8 | 6.66 MB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen | |
| Diss-JHoyer_-Kurzfassung.pdf | 1747d06797749545c432e3ddc398d671 | 70.34 kB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen |
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