| Titel: | Characterization and correction of multilayer X-ray optics | Sprache: | Englisch | Autor*in: | Dresselhaus, Jan Lukas | Schlagwörter: | Correction; Optics; Multilayer; Characterization; X-ray | Erscheinungsdatum: | 2024 | Tag der mündlichen Prüfung: | 2025-01-27 | URL: | https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/11535 | URN: | urn:nbn:de:gbv:18-ediss-126347 | Dokumenttyp: | Dissertation | Betreuer*in: | Bajt, Saša |
| Enthalten in den Sammlungen: | Elektronische Dissertationen und Habilitationen |
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| Datei | Prüfsumme | Größe | Format | |
|---|---|---|---|---|
| DresselhausThesisPublish.pdf | 5e6087c5c4f08d479d4c05f94a7c788f | 77.04 MB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen |
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