Titel: Characterization and correction of multilayer X-ray optics
Sprache: Englisch
Autor*in: Dresselhaus, Jan Lukas
Schlagwörter: Correction; Optics; Multilayer; Characterization; X-ray
Erscheinungsdatum: 2024
Tag der mündlichen Prüfung: 2025-01-27
URL: https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/11535
URN: urn:nbn:de:gbv:18-ediss-126347
Dokumenttyp: Dissertation
Betreuer*in: Bajt, Saša
Enthalten in den Sammlungen:Elektronische Dissertationen und Habilitationen

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