| Titel: | Bestimmung der Struktur komplexer Halbleiter-Oberflächenrekonstruktionen mit Röntgenbeugung | Sprache: | Deutsch | Autor*in: | Bunk, Oliver | GND-Schlagwörter: | SiliciumGND Germanium Kristallfläche Adsorption RöntgenbeugungGND SynchrotronstrahlungGND |
Erscheinungsdatum: | 1999 | Tag der mündlichen Prüfung: | 1999-12-08 | URL: | https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/259 | URN: | urn:nbn:de:gbv:18-993 | Dokumenttyp: | Dissertation | Betreuer*in: | Johnson, Robert L. (Prof. Dr.) |
| Enthalten in den Sammlungen: | Elektronische Dissertationen und Habilitationen |
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| Datei | Beschreibung | Prüfsumme | Größe | Format | |
|---|---|---|---|---|---|
| bunk_diss.pdf | 3f75be6d19ec465766bb33c0b8945564 | 3.18 MB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen |
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