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Titel: Bestimmung der Struktur komplexer Halbleiter-Oberflächenrekonstruktionen mit Röntgenbeugung
Sprache: Deutsch
Autor*in: Bunk, Oliver
GND-Schlagwörter: Silicium; Germanium; Kristallfläche; Adsorption; Röntgenbeugung; Synchrotronstrahlung
Erscheinungsdatum: 1999
Tag der mündlichen Prüfung: 1999-12-08
URL: https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/259
URN: urn:nbn:de:gbv:18-993
Dokumenttyp: Dissertation
Betreuer*in: Johnson, Robert L. (Prof. Dr.)
Enthalten in den Sammlungen:Elektronische Dissertationen und Habilitationen

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