| Titel: | X-ray Optical Delay Line at EuXFEL and Investigation of B4C Damage Threshold | Sprache: | Englisch | Autor*in: | Tavakkoly, Marziyeh Sadat | Schlagwörter: | X-ray Optics; Optical Delay Line; Damage Threshold; Silicon mirror; B4C damage threshold; B4C coating; European X-ray Free Electron Laser (EuXFEL); Electron collision length; Energy deposition depth; Single-shot damage; Multi-pulse damage; X-ray mirror | Erscheinungsdatum: | 2024 | Tag der mündlichen Prüfung: | 2025-02-12 | URL: | https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/11536 | URN: | urn:nbn:de:gbv:18-ediss-126351 | Dokumenttyp: | Dissertation | Betreuer*in: | Hillert, Wolfgang Vannoni, Maurizio Meyer, Michael |
| Enthalten in den Sammlungen: | Elektronische Dissertationen und Habilitationen |
Dateien zu dieser Ressource:
| Datei | Prüfsumme | Größe | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Thesis_Marziyeh Tavakkoly.pdf | 9dd6ab74adceeff15c1c3f3c5c3912fe | 56.83 MB | Adobe PDF | Öffnen/Anzeigen |
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