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Titel: Processing and imaging of seismic diffraction using multiparameter stacking attributes
Sonstige Titel: Prozessierung und Abbildung von seismischen Diffrakionen mittels Multiparameter Stapelungsattributen
Sprache: Englisch
Autor*in: Bakhtiari Rad, Parsa
Schlagwörter: Diffraktionsseparation; seismisches Abbilden; Stapelung; CRS; Seimic imaging; Diffraction separation; Diffraction imaging; Stacking; CRS
Erscheinungsdatum: 2016
Tag der mündlichen Prüfung: 2016-06-21
Zusammenfassung: 
Conventional seismic processing and imaging techniques are tuned to enhance reflections while diffractions are considered as noise. However, diffraction imaging plays a key role in high-resolution characterization of small-scale subsurface structures. A key step of diffraction imaging and tomography is diffraction separation and enhancement especially in the full pre-stack data volume. In this work, we consider point diffractors and present a fast and robust workflow for pre-stack diffraction separation based on
wavefront attributes which are determined using the common-reflection-surface (CRS) method. In the first stage, we use a zero-offset based extrapolation operator for pre-stack diffraction separation, which combines the robustness and stability of the zero-offset CRS processing with enhanced resolution and improved illumination of the finite-offset CRS processing. When finite-offset diffracted events are separated, in the second stage, we suggest a diffraction-based time migration velocity model building which provides high-quality diffraction velocity spectra. Applications of the new workflow to 2D~/~3D complex synthetic data reveal the high potential of diffractions for improved time imaging.
URL: https://ediss.sub.uni-hamburg.de/handle/ediss/6789
URN: urn:nbn:de:gbv:18-79581
Dokumenttyp: Dissertation
Betreuer*in: Gajewski, Dirk (Prof. Dr.)
Enthalten in den Sammlungen:Elektronische Dissertationen und Habilitationen

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